Mechanical/Electrical Characterization of ZnO Nanomaterial Based on AFM/Nanomanipulator Embedded in SEM

ZnO nanomaterials have been widely used in micro/nano devices and structure due to special mechanical/electrical properties, and its characterization is still deficient and challenging. In this paper, ZnO nanomaterials, including nanorod and nanowire are characterized by atomic force microscope (AFM...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Mei Liu, Weilin Su, Xiangzheng Qin, Kai Cheng, Wei Ding, Li Ma, Ze Cui, Jinbo Chen, Jinjun Rao, Hangkong Ouyang, Tao Sun
Ձևաչափ: Հոդված
Լեզու:English
Հրապարակվել է: MDPI AG 2021-02-01
Շարք:Micromachines
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:https://www.mdpi.com/2072-666X/12/3/248