Стиль цитування APA (7-ме видання)

Myers, M. P., & Anant Balakrishnan, J. G. K. (2005). Improving production testing of RF products in a noisy measurement environment. Massachusetts Institute of Technology.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Myers, M. Parker, та John G. Kassakian Anant Balakrishnan. Improving Production Testing of RF Products in a Noisy Measurement Environment. Massachusetts Institute of Technology, 2005.

Стиль цитування MLA (9-ме видання)

Myers, M. Parker, та John G. Kassakian Anant Balakrishnan. Improving Production Testing of RF Products in a Noisy Measurement Environment. Massachusetts Institute of Technology, 2005.