Hazard, T., Woods, W., Rosenberg, D., Das, R., Hirjibehedin, C., Kim, D., . . . Laboratory, L. (2024). Characterization of superconducting through-silicon vias as capacitive elements in quantum circuits. AIP Publishing.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Hazard, TM, et al. Characterization of Superconducting Through-silicon Vias as Capacitive Elements in Quantum Circuits. AIP Publishing, 2024.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Hazard, TM, et al. Characterization of Superconducting Through-silicon Vias as Capacitive Elements in Quantum Circuits. AIP Publishing, 2024.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.