Testing for time-dependent failures in electronic products

Testing for time-dependent failures in electronic products

Thesis (M.S.)--Massachusetts Institute of Technology, Sloan School of Management, 1994, and Thesis (M.S.)--Massachusetts Institute of Technology, Dept. of Electrical Engineering, 1994.

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Peterson, Michael L. (Michael Laurel)
מחברים אחרים: Massachusetts Institute of Technology. Department of Electrical Engineering
פורמט: Thesis
שפה:eng
יצא לאור: Massachusetts Institute of Technology 2007
נושאים:
Sloan School of Management
Electrical Engineering
גישה מקוונת:http://hdl.handle.net/1721.1/35418

אינטרנט

http://hdl.handle.net/1721.1/35418

פריטים דומים