X-ray Diffraction Studies

Contains report on one research project.

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Warren, B. E., Mozzi, R. L.
Ձևաչափ: Technical Report
Լեզու:English
Հրապարակվել է: Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT) 2010
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:http://hdl.handle.net/1721.1/55445