Finding instrumentable locations for fuzzing via static binary analysis

In the 21st century, the rapid growth of technology has become indispensable in people’s daily lives. Technological devices are built upon software programs, in which software programs are getting more complex in the development of technology. The exploitation of vulnerabilities exists in every soft...

תיאור מלא

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Ong, Kwang Wee
מחברים אחרים: Liu Yang
פורמט: Final Year Project (FYP)
שפה:English
יצא לאור: Nanyang Technological University 2023
נושאים:
גישה מקוונת:https://hdl.handle.net/10356/166215

פריטים דומים