Unveiling the layered structure of sulfobetaine polymer brushes through bimodal atomic force microscopy

Many zwitterionic polymer brushes exhibit highly stimuli-responsive properties stemming from the strong dipole and electrostatic interaction of their building blocks. Here, we showed how a combination of two atomic force microscopy (AFM) modes can reveal the layered structure of poly(sulfobetaine me...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Mondarte, Evan Angelo Quimada, Shi, Yuchen, Koh, Xue Qi, Feng, Xueyu, Daniel, Dan, Zhang, Xin-Xing, Yu, Jing
Այլ հեղինակներ: School of Materials Science and Engineering
Ձևաչափ: Journal Article
Լեզու:English
Հրապարակվել է: 2023
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:https://hdl.handle.net/10356/171410

Նմանատիպ նյութեր