Unveiling the layered structure of sulfobetaine polymer brushes through bimodal atomic force microscopy
Many zwitterionic polymer brushes exhibit highly stimuli-responsive properties stemming from the strong dipole and electrostatic interaction of their building blocks. Here, we showed how a combination of two atomic force microscopy (AFM) modes can reveal the layered structure of poly(sulfobetaine me...
Հիմնական հեղինակներ: | Mondarte, Evan Angelo Quimada, Shi, Yuchen, Koh, Xue Qi, Feng, Xueyu, Daniel, Dan, Zhang, Xin-Xing, Yu, Jing |
---|---|
Այլ հեղինակներ: | School of Materials Science and Engineering |
Ձևաչափ: | Journal Article |
Լեզու: | English |
Հրապարակվել է: |
2023
|
Խորագրեր: | |
Առցանց հասանելիություն: | https://hdl.handle.net/10356/171410 |
Նմանատիպ նյութեր
-
Atomic force microscopy /
: 491506 Eaton, Peter Jonathan, և այլն
Հրապարակվել է: (2010) -
Noncontact atomic force microscopy/
: Morita, S. (Seizo), 1948-, և այլն
Հրապարակվել է: (c200) -
Scientific researches in atomic force microscopy /
: Wright, Kate, editor
Հրապարակվել է: (2015) -
ATOMIC-FORCE MICROSCOPY AND ITS APPLICATIONS /
: editor, և այլն
Հրապարակվել է: (2019) -
Atomic force microscopy : biomedical methods and applications /
: Braga, Pier Carlo, և այլն
Հրապարակվել է: (2004)