Indeks Bias Dan Relasinya Terhadap Struktur Ikatan Lapisan Tipis Amorf Silikon Karbon (a-SiC:H) Hasil Deposisi Metode DC Sputtering

Lapisan tipis amorf silikon karbon (a-SiC:H) dideposisi dengan metode de sputtering menggunakan target silikon dalam campuran gas argon dan metan. Indeks bias sebagai fungsi energi diperoleh dari hasil pengukuran transmisi. Indeks bias akan dianalisis terhadap sifat struktur (inframerah) dan komposi...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Perpustakaan UGM, i-lib
Format: Article
Published: [Yogyakarta] : Universitas Gadjah Mada 2002
Subjects:
_version_ 1826032035895967744
author Perpustakaan UGM, i-lib
author_facet Perpustakaan UGM, i-lib
author_sort Perpustakaan UGM, i-lib
collection UGM
description Lapisan tipis amorf silikon karbon (a-SiC:H) dideposisi dengan metode de sputtering menggunakan target silikon dalam campuran gas argon dan metan. Indeks bias sebagai fungsi energi diperoleh dari hasil pengukuran transmisi. Indeks bias akan dianalisis terhadap sifat struktur (inframerah) dan komposisi (electron probe microanalysis/EPMA, Rutherford BackscatteringIRBS). Baik hidrogen maupun karbon keduanya memberikan pengaruh terhadap berkurangnya harga indeks bias dengan bertambahnya flow rate gas metan. Berkurangnya harga indeks bias, hubungannya dengan kepadatan material dan struktur ikatan Si-H, C-H dan Si-C akan didiskusikan. Kata kunci : indeks bias, sifat optik, inframerah, struktur ikatan
first_indexed 2024-03-13T18:47:09Z
format Article
id oai:generic.eprints.org:22306
institution Universiti Gadjah Mada
last_indexed 2024-03-13T18:47:09Z
publishDate 2002
publisher [Yogyakarta] : Universitas Gadjah Mada
record_format dspace
spelling oai:generic.eprints.org:223062014-06-18T00:31:30Z https://repository.ugm.ac.id/22306/ Indeks Bias Dan Relasinya Terhadap Struktur Ikatan Lapisan Tipis Amorf Silikon Karbon (a-SiC:H) Hasil Deposisi Metode DC Sputtering Perpustakaan UGM, i-lib Jurnal i-lib UGM Lapisan tipis amorf silikon karbon (a-SiC:H) dideposisi dengan metode de sputtering menggunakan target silikon dalam campuran gas argon dan metan. Indeks bias sebagai fungsi energi diperoleh dari hasil pengukuran transmisi. Indeks bias akan dianalisis terhadap sifat struktur (inframerah) dan komposisi (electron probe microanalysis/EPMA, Rutherford BackscatteringIRBS). Baik hidrogen maupun karbon keduanya memberikan pengaruh terhadap berkurangnya harga indeks bias dengan bertambahnya flow rate gas metan. Berkurangnya harga indeks bias, hubungannya dengan kepadatan material dan struktur ikatan Si-H, C-H dan Si-C akan didiskusikan. Kata kunci : indeks bias, sifat optik, inframerah, struktur ikatan [Yogyakarta] : Universitas Gadjah Mada 2002 Article NonPeerReviewed Perpustakaan UGM, i-lib (2002) Indeks Bias Dan Relasinya Terhadap Struktur Ikatan Lapisan Tipis Amorf Silikon Karbon (a-SiC:H) Hasil Deposisi Metode DC Sputtering. Jurnal i-lib UGM. http://i-lib.ugm.ac.id/jurnal/download.php?dataId=5194
spellingShingle Jurnal i-lib UGM
Perpustakaan UGM, i-lib
Indeks Bias Dan Relasinya Terhadap Struktur Ikatan Lapisan Tipis Amorf Silikon Karbon (a-SiC:H) Hasil Deposisi Metode DC Sputtering
title Indeks Bias Dan Relasinya Terhadap Struktur Ikatan Lapisan Tipis Amorf Silikon Karbon (a-SiC:H) Hasil Deposisi Metode DC Sputtering
title_full Indeks Bias Dan Relasinya Terhadap Struktur Ikatan Lapisan Tipis Amorf Silikon Karbon (a-SiC:H) Hasil Deposisi Metode DC Sputtering
title_fullStr Indeks Bias Dan Relasinya Terhadap Struktur Ikatan Lapisan Tipis Amorf Silikon Karbon (a-SiC:H) Hasil Deposisi Metode DC Sputtering
title_full_unstemmed Indeks Bias Dan Relasinya Terhadap Struktur Ikatan Lapisan Tipis Amorf Silikon Karbon (a-SiC:H) Hasil Deposisi Metode DC Sputtering
title_short Indeks Bias Dan Relasinya Terhadap Struktur Ikatan Lapisan Tipis Amorf Silikon Karbon (a-SiC:H) Hasil Deposisi Metode DC Sputtering
title_sort indeks bias dan relasinya terhadap struktur ikatan lapisan tipis amorf silikon karbon a sic h hasil deposisi metode dc sputtering
topic Jurnal i-lib UGM
work_keys_str_mv AT perpustakaanugmilib indeksbiasdanrelasinyaterhadapstrukturikatanlapisantipisamorfsilikonkarbonasichhasildeposisimetodedcsputtering