Pengaruh arus ion dopan terhadap sifat kelistrikan semikonduktor terdadah
Main Authors: | , SUPRIYANTO, Amir, , Dr. Kusminarto |
---|---|
Format: | Thesis |
Published: |
[Yogyakarta] : Universitas Gadjah Mada
1995
|
Subjects: |
Similar Items
-
Penentuan profil konsentrasi ion dopan pada lapisan semikonduktor silikon diimplantasi dengan ion fosfor tenaga 30 KeV dan 60 KeV
by: , DWIJANANTI, Pratiwi, et al.
Published: (1996) -
Simulasi penguat serat terdadah erbium
by: , SUTISNA, I Putu Ngurah, et al.
Published: (1995) -
Analisis laser serat optis terdadah erbium dan neodimium
by: , HARTATIEK, et al.
Published: (1996) -
Pengaruh implantasi Ion Yttrium (Y) dan Cerium (Ce) terhadap sifat ketahanan oksidasi suhu tinggi material FeAl
by: , YUNIATI, Anis, et al.
Published: (2007) -
Pengaruh Variasi Dopan Asam Terhadap Kinerja Baterai Sekunder Polianilina|Zn
by: Said Ali Akbar, et al.
Published: (2020-06-01)