Kirkland, A., & Meyer, R. (2004). "Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: Aberration measurement and wavefunction reconstruction.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Kirkland, A., و R. Meyer. "Indirect" High-resolution Transmission Electron Microscopy: Aberration Measurement and Wavefunction Reconstruction. 2004.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Kirkland, A., و R. Meyer. "Indirect" High-resolution Transmission Electron Microscopy: Aberration Measurement and Wavefunction Reconstruction. 2004.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.