تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
High resolution imaging using...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:
Hetherington, C
,
Kirkland, A
,
Doole, R
,
Cockayne, D
,
Titchmarsh, J
,
Hutchison, J
التنسيق:
Journal article
اللغة:
English
منشور في:
2006
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
الوصف
الملخص:
مواد مشابهة
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
حسب: Hetherington, C, وآخرون
منشور في: (2005)
Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
حسب: Sawada, H, وآخرون
منشور في: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
حسب: Hutchison, J, وآخرون
منشور في: (2005)
Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
حسب: Mobus, G, وآخرون
منشور في: (2001)
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
حسب: Hetherington, C, وآخرون
منشور في: (2008)