Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
High resolution imaging using...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Hetherington, C
,
Kirkland, A
,
Doole, R
,
Cockayne, D
,
Titchmarsh, J
,
Hutchison, J
Formaat:
Journal article
Taal:
English
Gepubliceerd in:
2006
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Omschrijving
Samenvatting:
Gelijkaardige items
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
door: Hetherington, C, et al.
Gepubliceerd in: (2005)
Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
door: Sawada, H, et al.
Gepubliceerd in: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
door: Hutchison, J, et al.
Gepubliceerd in: (2005)
Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
door: Mobus, G, et al.
Gepubliceerd in: (2001)
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
door: Hetherington, C, et al.
Gepubliceerd in: (2008)