Pular para o conteúdo
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Todos os campos
Título
Autor
Assunto
Número de Chamada
ISBN/ISSN
Tag
Buscar
Avançada
High resolution imaging using...
Citar
Enviar por SMS
Enviar por e-mail
Imprimir
Exportar registro
Exportar para RefWorks
Exportar para EndNoteWeb
Exportar para EndNote
Link permanente
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
Detalhes bibliográficos
Principais autores:
Hetherington, C
,
Kirkland, A
,
Doole, R
,
Cockayne, D
,
Titchmarsh, J
,
Hutchison, J
Formato:
Journal article
Idioma:
English
Publicado em:
2006
Itens
Descrição
Registros relacionados
Registro fonte
Descrição
Resumo:
Registros relacionados
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
por: Hetherington, C, et al.
Publicado em: (2005)
Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
por: Sawada, H, et al.
Publicado em: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
por: Hutchison, J, et al.
Publicado em: (2005)
Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
por: Mobus, G, et al.
Publicado em: (2001)
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
por: Hetherington, C, et al.
Publicado em: (2008)