Hoppa till innehåll
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Språk
Alla fält
Titel
Upphovsman
Ämne
Signum
ISBN/ISSN
Tagg
Sök
Avancerad
High resolution imaging using...
Hänvisa
Textmeddelande
Skicka per e-post
Skriv ut
Exportera posten
Exportera till: RefWorks
Exportera till: EndNoteWeb
Exportera till: EndNote
Permanent länk
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsmän:
Hetherington, C
,
Kirkland, A
,
Doole, R
,
Cockayne, D
,
Titchmarsh, J
,
Hutchison, J
Materialtyp:
Journal article
Språk:
English
Publicerad:
2006
Beståndsuppgifter
Beskrivning
Liknande verk
Katalogiseringsuppgifter
Beskrivning
Sammanfattning:
Liknande verk
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
av: Hetherington, C, et al.
Publicerad: (2005)
Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
av: Sawada, H, et al.
Publicerad: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
av: Hutchison, J, et al.
Publicerad: (2005)
Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
av: Mobus, G, et al.
Publicerad: (2001)
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
av: Hetherington, C, et al.
Publicerad: (2008)