High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM

Схожі ресурси

• Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
  за авторством: Hetherington, C, та інші
  Опубліковано: (2005)
• Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
  за авторством: Sawada, H, та інші
  Опубліковано: (2005)
• A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
  за авторством: Hutchison, J, та інші
  Опубліковано: (2005)
• Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
  за авторством: Mobus, G, та інші
  Опубліковано: (2001)
• High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
  за авторством: Hetherington, C, та інші
  Опубліковано: (2008)