Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprog
Alle Felter
Titel
Forfatter
Fag
Klassifikationsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Find
Udvidet
High resolution imaging using...
Citér dette
Stav dette
Email dette
Udskriv
Eksportér post
Eksportér til RefWorks
Eksportér til EndNoteWeb
Eksportér til EndNote
Permanent link
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
Bibliografiske detaljer
Main Authors:
Hetherington, C
,
Kirkland, A
,
Doole, R
,
Cockayne, D
,
Titchmarsh, J
,
Hutchison, J
Format:
Journal article
Sprog:
English
Udgivet:
2006
Beholdninger
Beskrivelse
Lignende værker
Medarbejdervisning
Lignende værker
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
af: Hetherington, C, et al.
Udgivet: (2005)
Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
af: Sawada, H, et al.
Udgivet: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
af: Hutchison, J, et al.
Udgivet: (2005)
Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
af: Mobus, G, et al.
Udgivet: (2001)
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
af: Hetherington, C, et al.
Udgivet: (2008)