High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM

High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM

Bibliografiset tiedot
Päätekijät:	Hetherington, C, Kirkland, A, Doole, R, Cockayne, D, Titchmarsh, J, Hutchison, J
Aineistotyyppi:	Journal article
Kieli:	English
Julkaistu:	2006

Samankaltaisia teoksia

Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
Tekijä: Hetherington, C, et al.
Julkaistu: (2005)

Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
Tekijä: Sawada, H, et al.
Julkaistu: (2005)

A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
Tekijä: Hutchison, J, et al.
Julkaistu: (2005)

Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
Tekijä: Mobus, G, et al.
Julkaistu: (2001)

High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
Tekijä: Hetherington, C, et al.
Julkaistu: (2008)

A new method for the determination of the wave aberration function for high-resolution TEM.; 2. Measurement of the antisymmetric aberrations.
Tekijä: Meyer, R, et al.
Julkaistu: (2004)

A new method for the determination of the wave aberration function for high resolution TEM 1. Measurement of the symmetric aberrations.
Tekijä: Meyer, R, et al.
Julkaistu: (2002)

The application of spherical aberration correction and focal series restoration to high-resolution images of platinum nanocatalyst particles
Tekijä: Gontard, L, et al.
Julkaistu: (2006)

Aberration corrected TEM: current status and future prospects
Tekijä: Kirkland, A, et al.
Julkaistu: (2008)

Applications of the Oxford-JEOL aberration-corrected electron microscope
Tekijä: Nellist, P, et al.
Julkaistu: (2010)

Cs corrector for imaging
Tekijä: Sawada, H, et al.
Julkaistu: (2004)

Cs corrector for illumination
Tekijä: Sawada, H, et al.
Julkaistu: (2004)

On the importance of fifth-order spherical aberration for a fully corrected electron microscope.
Tekijä: Chang, L, et al.
Julkaistu: (2006)

Aberration-corrected imaging of active sites on industrial catalyst nanoparticles.
Tekijä: Gontard, L, et al.
Julkaistu: (2007)

Materials advances through aberration-corrected electron microscopy
Tekijä: Pennycook, S, et al.
Julkaistu: (2006)

Materials advances through aberration-corrected electron microscopy
Tekijä: Pennycook, S, et al.
Julkaistu: (2006)

In situ TEM observation of the nucleation and growth of silver oxide nanoparticles.
Tekijä: Li, C, et al.
Julkaistu: (2005)

New possibilities with aberration-corrected electron microscopy.
Tekijä: Cockayne, D, et al.
Julkaistu: (2009)

Aberration-Corrected Imaging in CTEM
Tekijä: Haigh, S, et al.
Julkaistu: (2011)

Accurate evaluation of aberration for probe-forming system and influence of aberration on high-resolution STEM image
Tekijä: Sawada, H, et al.
Julkaistu: (2017)

Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
Tekijä: Ciston, J, et al.
Julkaistu: (2009)

Low-dose aberration corrected cryo-electron microscopy of organic specimens.
Tekijä: Evans, J, et al.
Julkaistu: (2008)

Calculations of spherical aberration-corrected imaging behaviour.
Tekijä: Chang, L, et al.
Julkaistu: (2003)

Indirect super resolved microscopy in the TEM
Tekijä: Kirkland, A, et al.
Julkaistu: (1999)

Oxford CyberSEM: Remote Microscopy
Tekijä: Rahman, M, et al.
Julkaistu: (2008)

Zernike Phase Plates for aberration-corrected TEM in Material Science
Tekijä: Hettler Simon, et al.
Julkaistu: (2024-01-01)

Performance and early applications of a versatile double aberration-corrected JEOL-2200FS FEG TEM/STEM at Aalto University
Tekijä: Jiang, H, et al.
Julkaistu: (2012)

Distortions correction in HR-(S)TEM and low resolution TEM images: Absolute size, strain and polarization measurements
Tekijä: Cherkashin Nikolay, et al.
Julkaistu: (2024-01-01)

High-resolution imaging of zeolite with aberration-corrected transmission electron microscopy
Tekijä: Kaname Yoshida, et al.
Julkaistu: (2013-04-01)

"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: Aberration measurement and wavefunction reconstruction
Tekijä: Kirkland, A, et al.
Julkaistu: (2004)

"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: aberration measurement and wavefunction reconstruction.
Tekijä: Kirkland, A, et al.
Julkaistu: (2004)

The effect of radiation damage on anomalous absorption in the TEM
Tekijä: Scruby, L, et al.
Julkaistu: (2004)

HIGH-RESOLUTION IMAGING OF SPINODALS
Tekijä: Gronsky, R, et al.
Julkaistu: (1980)

Transmission electron microscopy without aberrations: Applications to materials science
Tekijä: Kirkland, A, et al.
Julkaistu: (2008)

Optimal tilt magnitude determination for aberration-corrected super resolution exit wave function reconstruction.
Tekijä: Haigh, S, et al.
Julkaistu: (2009)

TEM characterization of stress corrosion cracks in 304SS
Tekijä: Lozano-Perez, S, et al.
Julkaistu: (2004)

TEM characterization of stress corrosion cracks in 304SS
Tekijä: Lozano-Perez, S, et al.
Julkaistu: (2004)

Imaging electron detectors for low-voltage TEM
Tekijä: Moldovan, G, et al.
Julkaistu: (2010)

Confocal operation of a transmission electron microscope with two aberration correctors
Tekijä: Nellist, P, et al.
Julkaistu: (2006)

TEM investigations of intergranular stress corrosion cracking in austenitic alloys in PWR environmental conditions
Tekijä: Lozano-Perez, S, et al.
Julkaistu: (2003)