High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM

High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM

Бібліографічні деталі
Автори:	Hetherington, C, Kirkland, A, Doole, R, Cockayne, D, Titchmarsh, J, Hutchison, J
Формат:	Journal article
Мова:	English
Опубліковано:	2006

Схожі ресурси

Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
за авторством: Hetherington, C, та інші
Опубліковано: (2005)

Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
за авторством: Sawada, H, та інші
Опубліковано: (2005)

A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
за авторством: Hutchison, J, та інші
Опубліковано: (2005)

Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
за авторством: Mobus, G, та інші
Опубліковано: (2001)

High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
за авторством: Hetherington, C, та інші
Опубліковано: (2008)

A new method for the determination of the wave aberration function for high-resolution TEM.; 2. Measurement of the antisymmetric aberrations.
за авторством: Meyer, R, та інші
Опубліковано: (2004)

A new method for the determination of the wave aberration function for high resolution TEM 1. Measurement of the symmetric aberrations.
за авторством: Meyer, R, та інші
Опубліковано: (2002)

The application of spherical aberration correction and focal series restoration to high-resolution images of platinum nanocatalyst particles
за авторством: Gontard, L, та інші
Опубліковано: (2006)

Aberration corrected TEM: current status and future prospects
за авторством: Kirkland, A, та інші
Опубліковано: (2008)

Applications of the Oxford-JEOL aberration-corrected electron microscope
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2010)

Cs corrector for imaging
за авторством: Sawada, H, та інші
Опубліковано: (2004)

Cs corrector for illumination
за авторством: Sawada, H, та інші
Опубліковано: (2004)

On the importance of fifth-order spherical aberration for a fully corrected electron microscope.
за авторством: Chang, L, та інші
Опубліковано: (2006)

Aberration-corrected imaging of active sites on industrial catalyst nanoparticles.
за авторством: Gontard, L, та інші
Опубліковано: (2007)

Materials advances through aberration-corrected electron microscopy
за авторством: Pennycook, S, та інші
Опубліковано: (2006)

Materials advances through aberration-corrected electron microscopy
за авторством: Pennycook, S, та інші
Опубліковано: (2006)

In situ TEM observation of the nucleation and growth of silver oxide nanoparticles.
за авторством: Li, C, та інші
Опубліковано: (2005)

New possibilities with aberration-corrected electron microscopy.
за авторством: Cockayne, D, та інші
Опубліковано: (2009)

Aberration-Corrected Imaging in CTEM
за авторством: Haigh, S, та інші
Опубліковано: (2011)

Accurate evaluation of aberration for probe-forming system and influence of aberration on high-resolution STEM image
за авторством: Sawada, H, та інші
Опубліковано: (2017)

Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
за авторством: Ciston, J, та інші
Опубліковано: (2009)

Low-dose aberration corrected cryo-electron microscopy of organic specimens.
за авторством: Evans, J, та інші
Опубліковано: (2008)

Calculations of spherical aberration-corrected imaging behaviour.
за авторством: Chang, L, та інші
Опубліковано: (2003)

Indirect super resolved microscopy in the TEM
за авторством: Kirkland, A, та інші
Опубліковано: (1999)

Oxford CyberSEM: Remote Microscopy
за авторством: Rahman, M, та інші
Опубліковано: (2008)

Zernike Phase Plates for aberration-corrected TEM in Material Science
за авторством: Hettler Simon, та інші
Опубліковано: (2024-01-01)

Performance and early applications of a versatile double aberration-corrected JEOL-2200FS FEG TEM/STEM at Aalto University
за авторством: Jiang, H, та інші
Опубліковано: (2012)

Distortions correction in HR-(S)TEM and low resolution TEM images: Absolute size, strain and polarization measurements
за авторством: Cherkashin Nikolay, та інші
Опубліковано: (2024-01-01)

High-resolution imaging of zeolite with aberration-corrected transmission electron microscopy
за авторством: Kaname Yoshida, та інші
Опубліковано: (2013-04-01)

"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: Aberration measurement and wavefunction reconstruction
за авторством: Kirkland, A, та інші
Опубліковано: (2004)

"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: aberration measurement and wavefunction reconstruction.
за авторством: Kirkland, A, та інші
Опубліковано: (2004)

The effect of radiation damage on anomalous absorption in the TEM
за авторством: Scruby, L, та інші
Опубліковано: (2004)

HIGH-RESOLUTION IMAGING OF SPINODALS
за авторством: Gronsky, R, та інші
Опубліковано: (1980)

Transmission electron microscopy without aberrations: Applications to materials science
за авторством: Kirkland, A, та інші
Опубліковано: (2008)

Optimal tilt magnitude determination for aberration-corrected super resolution exit wave function reconstruction.
за авторством: Haigh, S, та інші
Опубліковано: (2009)

TEM characterization of stress corrosion cracks in 304SS
за авторством: Lozano-Perez, S, та інші
Опубліковано: (2004)

TEM characterization of stress corrosion cracks in 304SS
за авторством: Lozano-Perez, S, та інші
Опубліковано: (2004)

Imaging electron detectors for low-voltage TEM
за авторством: Moldovan, G, та інші
Опубліковано: (2010)

Confocal operation of a transmission electron microscope with two aberration correctors
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2006)

TEM investigations of intergranular stress corrosion cracking in austenitic alloys in PWR environmental conditions
за авторством: Lozano-Perez, S, та інші
Опубліковано: (2003)