Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
High resolution imaging using...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Hetherington, C
,
Kirkland, A
,
Doole, R
,
Cockayne, D
,
Titchmarsh, J
,
Hutchison, J
Format:
Journal article
Idioma:
English
Publicat:
2006
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
per: Hetherington, C, et al.
Publicat: (2005)
Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
per: Sawada, H, et al.
Publicat: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
per: Hutchison, J, et al.
Publicat: (2005)
Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
per: Mobus, G, et al.
Publicat: (2001)
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
per: Hetherington, C, et al.
Publicat: (2008)