Անցեք բովանդակությանը
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Լեզու
Բոլոր դաշտերը
Վերնագիր
Հեղինակ
Խորագիր
Դասիչ
ISBN/ISSN
Ցուցիչ
Գտեք
Ընդլայնված
High resolution imaging using...
Վկայակոչեք սա
Գրեք սա
Էլփոստով ուղարկեք սա
Տպել
Արտահանել գրառումը
Արտահանել դեպի RefWorks
Արտահանել դեպի EndNoteWeb
Արտահանել դեպի EndNote
Մշտական հղում
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:
Hetherington, C
,
Kirkland, A
,
Doole, R
,
Cockayne, D
,
Titchmarsh, J
,
Hutchison, J
Ձևաչափ:
Journal article
Լեզու:
English
Հրապարակվել է:
2006
Պահումներ
Նկարագրություն
Նմանատիպ նյութեր
Աշխատակազմի տեսք
Նմանատիպ նյութեր
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
: Hetherington, C, և այլն
Հրապարակվել է: (2005)
Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
: Sawada, H, և այլն
Հրապարակվել է: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
: Hutchison, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2005)
Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
: Mobus, G, և այլն
Հրապարակվել է: (2001)
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
: Hetherington, C, և այլն
Հրապարակվել է: (2008)