Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
High resolution imaging using...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Hetherington, C
,
Kirkland, A
,
Doole, R
,
Cockayne, D
,
Titchmarsh, J
,
Hutchison, J
Định dạng:
Journal article
Ngôn ngữ:
English
Được phát hành:
2006
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
Bằng: Hetherington, C, et al.
Được phát hành: (2005)
Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
Bằng: Sawada, H, et al.
Được phát hành: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
Bằng: Hutchison, J, et al.
Được phát hành: (2005)
Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
Bằng: Mobus, G, et al.
Được phát hành: (2001)
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
Bằng: Hetherington, C, et al.
Được phát hành: (2008)