Microstructural investigation of Cu/Co multilayer films
Multilayer film structures, with applications based on the giant-magnetoresistance principle, comprise an exciting area of research and have the capability to improve the storage density and sensitivity of devices used by the magnetic recording industry. In order to optimise the performance of these...
Հիմնական հեղինակներ: | Larson, D, Petford-Long, A, Cerezo, A |
---|---|
Ձևաչափ: | Conference item |
Հրապարակվել է: |
1999
|
Նմանատիպ նյութեր
-
Three-dimensional atom probe field-ion microscopy observation of Cu/Co multilayer film structures
: Larson, D, և այլն
Հրապարակվել է: (1998) -
Focused ion-beam specimen preparation for atom probe field-ion microscopy characterization of multilayer film structures
: Larson, D, և այլն
Հրապարակվել է: (1999) -
Atom probe analysis of roughness and chemical intermixing in CoFe/Cu films (invited)
: Larson, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2001) -
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
: Larson, D, և այլն
Հրապարակվել է: (1999) -
Atomic-scale analysis of CoFe/Cu and CoFe/NiFe interfaces
: Larson, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2000)