Агуулга руу алгасах
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Хэл сонгох
Бүх талбарууд
Гарчиг
Зохиогч
Сэдэв
Зохиогчийн тэмдэгт
ISBN/ISSN
Шошго
Хайх
Дэлгэрэнгүй
Direct observations of defect...
Үүнийг ишлэх
Үүнийг мессежээр илгээх
Үүнийг цахим шуудангаар илгээх
Хэвлэх
Бүртгэлийг экспортлох
RefWorks руу экспортлох
EndNoteWeb руу экспортлох
EndNote руу экспортлох
Байнгын холбоос
Direct observations of defect structures in optoelectronic materials by Z-contrast stem
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Үндсэн зохиолчид:
Xin, Y
,
Browning, N
,
Pennycook, S
,
Nellist, P
,
Chen, Y
,
Rujirawat, S
,
Sivananthan, S
,
Omnes, F
,
Beaumont, B
,
Faurie, J
,
Gibart, P
Формат:
Conference item
Хэвлэсэн:
1998
Түр хойшлуулсан зүйлс
Тодорхойлолт
Ижил төстэй зүйлс
Ажилтнуудыг харах
Тодорхойлолт
Тойм:
Ижил төстэй зүйлс
Direct observations of atomic structures of defects in GaN by high resolution Z-contrast stem
-н: Xin, Y, зэрэг
Хэвлэсэн: (1998)
Direct observation of the core structures of threading dislocations in GaN
-н: Xin, Y, зэрэг
Хэвлэсэн: (1998)
On the origin of transverse incoherence in Z-contrast STEM.
-н: Rafferty, B, зэрэг
Хэвлэсэн: (2001)
Investigation of the evolution of single domain, (111) B CdTe films by molecular beam epitaxy on miscut (001) Si substrate
-н: Xin, Y, зэрэг
Хэвлэсэн: (1998)
Z-contrast scanning transmission electron microscopy
-н: Pennycook, S, зэрэг
Хэвлэсэн: (1999)