Direct observations of defect structures in optoelectronic materials by Z-contrast stem

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Xin, Y, Browning, N, Pennycook, S, Nellist, P, Chen, Y, Rujirawat, S, Sivananthan, S, Omnes, F, Beaumont, B, Faurie, J, Gibart, P
التنسيق:	Conference item
منشور في:	1998

مواد مشابهة