Direct observations of defect structures in optoelectronic materials by Z-contrast stem

Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:	Xin, Y, Browning, N, Pennycook, S, Nellist, P, Chen, Y, Rujirawat, S, Sivananthan, S, Omnes, F, Beaumont, B, Faurie, J, Gibart, P
Médium:	Conference item
Vydáno:	1998

Podobné jednotky