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Direct observations of defect structures in optoelectronic materials by Z-contrast stem
ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखकों:
Xin, Y
,
Browning, N
,
Pennycook, S
,
Nellist, P
,
Chen, Y
,
Rujirawat, S
,
Sivananthan, S
,
Omnes, F
,
Beaumont, B
,
Faurie, J
,
Gibart, P
स्वरूप:
Conference item
प्रकाशित:
1998
होल्डिंग्स
विवरण
समान संसाधन
स्टाफ के लिए
समान संसाधन
Direct observations of atomic structures of defects in GaN by high resolution Z-contrast stem
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प्रकाशित: (1998)
Investigation of the evolution of single domain, (111) B CdTe films by molecular beam epitaxy on miscut (001) Si substrate
द्वारा: Xin, Y, और अन्य
प्रकाशित: (1998)
On the origin of transverse incoherence in Z-contrast STEM.
द्वारा: Rafferty, B, और अन्य
प्रकाशित: (2001)
Z-contrast scanning transmission electron microscopy
द्वारा: Pennycook, S, और अन्य
प्रकाशित: (1999)