İçeriği atla
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Dil
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
Direct observations of defect...
Alıntıla
Telefona gönder
E-posta Gönder
Yazdır
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
Kalıcı bağlantı
Direct observations of defect structures in optoelectronic materials by Z-contrast stem
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:
Xin, Y
,
Browning, N
,
Pennycook, S
,
Nellist, P
,
Chen, Y
,
Rujirawat, S
,
Sivananthan, S
,
Omnes, F
,
Beaumont, B
,
Faurie, J
,
Gibart, P
Materyal Türü:
Conference item
Baskı/Yayın Bilgisi:
1998
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Benzer Materyaller
Direct observations of atomic structures of defects in GaN by high resolution Z-contrast stem
Yazar:: Xin, Y, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1998)
Direct observation of the core structures of threading dislocations in GaN
Yazar:: Xin, Y, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1998)
Investigation of the evolution of single domain, (111) B CdTe films by molecular beam epitaxy on miscut (001) Si substrate
Yazar:: Xin, Y, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1998)
On the origin of transverse incoherence in Z-contrast STEM.
Yazar:: Rafferty, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2001)
Z-contrast scanning transmission electron microscopy
Yazar:: Pennycook, S, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)