Van Den Bos, K., Janssens, L., De Backer, A., Nellist, P., & Van Aert, S. (2018). The atomic lensing model: New opportunities for atom-by-atom metrology of heterogeneous nanomaterials. Elsevier.
শিকাগো স্টাইল (17 তম সংস্করণ) উদ্ধৃতিVan Den Bos, K., L. Janssens, A. De Backer, P. Nellist, এবং S. Van Aert. The Atomic Lensing Model: New Opportunities for Atom-by-atom Metrology of Heterogeneous Nanomaterials. Elsevier, 2018.
M.L.A (9 ম সংস্করণ) উদ্ধৃতিVan Den Bos, K., et al. The Atomic Lensing Model: New Opportunities for Atom-by-atom Metrology of Heterogeneous Nanomaterials. Elsevier, 2018.
সতর্কবাণী: সাইটেশন সবসময় 100% নির্ভুল হতে পারে না.