Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Van Den Bos, K., Janssens, L., De Backer, A., Nellist, P., & Van Aert, S. (2018). The atomic lensing model: New opportunities for atom-by-atom metrology of heterogeneous nanomaterials. Elsevier.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Van Den Bos, K., L. Janssens, A. De Backer, P. Nellist, και S. Van Aert. The Atomic Lensing Model: New Opportunities for Atom-by-atom Metrology of Heterogeneous Nanomaterials. Elsevier, 2018.

Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)

Van Den Bos, K., et al. The Atomic Lensing Model: New Opportunities for Atom-by-atom Metrology of Heterogeneous Nanomaterials. Elsevier, 2018.