Van Den Bos, K., Janssens, L., De Backer, A., Nellist, P., & Van Aert, S. (2018). The atomic lensing model: New opportunities for atom-by-atom metrology of heterogeneous nanomaterials. Elsevier.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Van Den Bos, K., L. Janssens, A. De Backer, P. Nellist, e S. Van Aert. The Atomic Lensing Model: New Opportunities for Atom-by-atom Metrology of Heterogeneous Nanomaterials. Elsevier, 2018.
Citação MLA (9ª ed.)Van Den Bos, K., et al. The Atomic Lensing Model: New Opportunities for Atom-by-atom Metrology of Heterogeneous Nanomaterials. Elsevier, 2018.
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