Van Den Bos, K., Janssens, L., De Backer, A., Nellist, P., & Van Aert, S. (2018). The atomic lensing model: New opportunities for atom-by-atom metrology of heterogeneous nanomaterials. Elsevier.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Van Den Bos, K., L. Janssens, A. De Backer, P. Nellist, và S. Van Aert. The Atomic Lensing Model: New Opportunities for Atom-by-atom Metrology of Heterogeneous Nanomaterials. Elsevier, 2018.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Van Den Bos, K., et al. The Atomic Lensing Model: New Opportunities for Atom-by-atom Metrology of Heterogeneous Nanomaterials. Elsevier, 2018.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.