Weiter zum Inhalt
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprache
Alle Felder
Titel
Verfasser
Schlagwort
Signatur
ISBN/ISSN
Tag
Suchen
Erweitert
Abrupt model interface for the...
Zitieren
SMS versenden
Als E-Mail versenden
Drucken
Datensatz exportieren
Exportieren nach RefWorks
Exportieren nach EndNoteWeb
Exportieren nach EndNote
Persistenter Link
Abrupt model interface for the 4H(1000)SiC-SiO2 interface
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:
Devynck, F
,
Giustino, F
,
Pasquarello, A
Format:
Conference item
Veröffentlicht:
2005
Exemplare
Beschreibung
Ähnliche Einträge
Internformat
Beschreibung
Zusammenfassung:
Ähnliche Einträge
Atomistic model of the 4H(0001)SiC-SiO2 interface: structural and electronic properties
von: Devynck, F, et al.
Veröffentlicht: (2007)
Atomistic model of the 4H(0001)SiC-SiO2 interface: Structural and electronic properties
von: Devynck, F, et al.
Veröffentlicht: (2007)
Structural and electronic properties of an abrupt 4H-SiC(0001)/SiO2 interface model: Classical molecular dynamics simulations and density functional calculations
von: Devynck, F, et al.
Veröffentlicht: (2007)
Atomic-scale modelling of the Si(100)-SiO(2) interface
von: Giustino, F, et al.
Veröffentlicht: (2005)
Electronic structure at realistic Si(100)-SiO2 interfaces
von: Giustino, F, et al.
Veröffentlicht: (2004)