Direct imaging of rotational stacking faults in few layer graphene
Few layer graphene nanostructures are directiy imaged using aberration corrected high-resolution transmission electron microscopy with an electron accelerating voltage of 80 kV. We observe rotational stacking faults in the HRTEM images of 2-6 layers of graphene sheets, giving rise to Moiré patterns....
প্রধান লেখক: | Warner, J, Rümmeli, M, Gemming, T, Büchner, B, Briggs, G |
---|---|
বিন্যাস: | Journal article |
ভাষা: | English |
প্রকাশিত: |
2009
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Direct imaging of rotational stacking faults in few layer graphene.
অনুযায়ী: Warner, J, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2009) -
Structural distortions in few-layer graphene creases.
অনুযায়ী: Robertson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2011) -
Atomic structure of interconnected few-layer graphene domains.
অনুযায়ী: Robertson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2011) -
Atomic resolution imaging of the edges of catalytically etched suspended few-layer graphene.
অনুযায়ী: Schäffel, F, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2011) -
Atomic resolution imaging of the edges of catalytically etched suspended few-layer graphene
অনুযায়ী: Schäffel, F, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2011)