Direct imaging of rotational stacking faults in few layer graphene

Few layer graphene nanostructures are directiy imaged using aberration corrected high-resolution transmission electron microscopy with an electron accelerating voltage of 80 kV. We observe rotational stacking faults in the HRTEM images of 2-6 layers of graphene sheets, giving rise to Moiré patterns....

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Warner, J, Rümmeli, M, Gemming, T, Büchner, B, Briggs, G
Định dạng: Journal article
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: 2009

Những quyển sách tương tự