Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
Assessment of lattice strain,...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
Показати інші версії (1)
Бібліографічні деталі
Автори:
Wilkinson, A
,
IOP
Формат:
Conference item
Опубліковано:
2011
Примірники
Опис
Інші версії (1)
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2011)
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (1996)
Strain measurement using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (1998)
Determination of elastic strain fields and geometrically necessary dislocation distributions near nanoindents using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2010)
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2009)