Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Progress in the atomic-scale a...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
Μορφή:
Journal article
Έκδοση:
2001
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Περιγραφή
Περίληψη:
Παρόμοια τεκμήρια
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
ανά: Larson, D, κ.ά.
Έκδοση: (1999)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
ανά: Cerezo, A, κ.ά.
Έκδοση: (2001)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
ανά: Cerezo, A, κ.ά.
Έκδοση: (1994)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
ανά: Larson, D, κ.ά.
Έκδοση: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
ανά: Vurpillot, F, κ.ά.
Έκδοση: (2004)