Անցեք բովանդակությանը
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Լեզու
Բոլոր դաշտերը
Վերնագիր
Հեղինակ
Խորագիր
Դասիչ
ISBN/ISSN
Ցուցիչ
Գտեք
Ընդլայնված
Progress in the atomic-scale a...
Վկայակոչեք սա
Գրեք սա
Էլփոստով ուղարկեք սա
Տպել
Արտահանել գրառումը
Արտահանել դեպի RefWorks
Արտահանել դեպի EndNoteWeb
Արտահանել դեպի EndNote
Մշտական հղում
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
Ձևաչափ:
Journal article
Հրապարակվել է:
2001
Պահումներ
Նկարագրություն
Նմանատիպ նյութեր
Աշխատակազմի տեսք
Նկարագրություն
Ամփոփում:
Նմանատիպ նյութեր
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
: Larson, D, և այլն
Հրապարակվել է: (1999)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
: Cerezo, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2001)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
: Cerezo, A, և այլն
Հրապարակվել է: (1994)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
: Larson, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
: Vurpillot, F, և այլն
Հրապարակվել է: (2004)