Przejdź do treści
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Język
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Etykieta
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
Progress in the atomic-scale a...
Cytować
Wyślij wiadomość
Wyślij emailem
Drukuj
Eksportuj rekord
Eksportuj do RefWorks
Eksportuj do EndNoteWeb
Eksportuj do EndNote
Odnośnik bezpośredni
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Opis bibliograficzny
Główni autorzy:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
Format:
Journal article
Wydane:
2001
Egzemplarz
Opis
Podobne zapisy
Wersja MARC
Opis
Streszczenie:
Podobne zapisy
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
od: Larson, D, i wsp.
Wydane: (1999)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
od: Cerezo, A, i wsp.
Wydane: (2001)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
od: Cerezo, A, i wsp.
Wydane: (1994)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
od: Larson, D, i wsp.
Wydane: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
od: Vurpillot, F, i wsp.
Wydane: (2004)