Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Vsa polja
Naslov
Avtor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Išči
Napredno
Progress in the atomic-scale a...
Citiraj
Pošljite SMS
Pošljite email
Natisni
Izvozi zadetek
Izvozi v RefWorks
Izvozi v EndNoteWeb
Izvozi v EndNote
Permanent link
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Bibliografske podrobnosti
Main Authors:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
Format:
Journal article
Izdano:
2001
Zaloga
Opis
Podobne knjige/članki
Knjižničarski pogled
Podobne knjige/članki
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
od: Larson, D, et al.
Izdano: (1999)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
od: Cerezo, A, et al.
Izdano: (2001)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
od: Cerezo, A, et al.
Izdano: (1994)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
od: Larson, D, et al.
Izdano: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
od: Vurpillot, F, et al.
Izdano: (2004)