Neidio i'r cynnwys
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Iaith
Pob Maes
Teitl
Awdur
Pwnc
Rhif Galw
ISBN/ISSN
Tag
Canfod
Uwch
Progress in the atomic-scale a...
Dyfynnu hwn
Anfonwch hwn fel neges destun
E-bostio hwn
Argraffu
Allforio Cofnod
Allforio i RefWorks
Allforio i EndNoteWeb
Allforio i EndNote
Permanent link
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awduron:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
Fformat:
Journal article
Cyhoeddwyd:
2001
Daliadau
Disgrifiad
Eitemau Tebyg
Dangos Staff
Eitemau Tebyg
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
gan: Larson, D, et al.
Cyhoeddwyd: (1999)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
gan: Cerezo, A, et al.
Cyhoeddwyd: (1994)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
gan: Cerezo, A, et al.
Cyhoeddwyd: (2001)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
gan: Larson, D, et al.
Cyhoeddwyd: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
gan: Vurpillot, F, et al.
Cyhoeddwyd: (2004)