Léim chuig an ábhar
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Teanga
Gach réimse
Teideal
Údar
Ábhar
Gairmuimhir
ISBN/ISSN
Clib
AIMSIGH
CASTA
Progress in the atomic-scale a...
Luaigh é seo
Seol mar théacs é seo
Seol é seo mar r-phost
Priontáil
Easpórtáil taifead
Easpórtáil chuig RefWorks
Easpórtáil chuig EndNoteWeb
Easpórtáil chuig EndNote
Buan-nasc
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoirí:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
Formáid:
Journal article
Foilsithe / Cruthaithe:
2001
Stoc
Cur síos
Míreanna comhchosúla
Amharc foirne
Míreanna comhchosúla
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
de réir: Larson, D, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1999)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
de réir: Cerezo, A, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1994)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
de réir: Cerezo, A, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2001)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
de réir: Larson, D, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
de réir: Vurpillot, F, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2004)