Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
Progress in the atomic-scale a...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Бібліографічні деталі
Автори:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
Формат:
Journal article
Опубліковано:
2001
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
за авторством: Larson, D, та інші
Опубліковано: (1999)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1994)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2001)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
за авторством: Larson, D, та інші
Опубліковано: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
за авторством: Vurpillot, F, та інші
Опубліковано: (2004)