Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
שפה
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Counting electrons in transmis...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
Counting electrons in transmission electron microscopes
מידע ביבליוגרפי
Main Authors:
Moldovan, G
,
Li, X
,
Wilshaw, P
,
Kirkland, A
פורמט:
Journal article
שפה:
English
יצא לאור:
2008
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
Thin silicon strip devices for direct electron detection in transmission electron microscopy
מאת: Moldovan, G, et al.
יצא לאור: (2008)
Confocal operation of a transmission electron microscope with two aberration correctors
מאת: Nellist, P, et al.
יצא לאור: (2006)
Energy Filtered Scanning Confocal Electron Microscopy in a Double Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope
מאת: Wang, P, et al.
יצא לאור: (2009)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
מאת: Nellist, P, et al.
יצא לאור: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
מאת: Nellist, P, et al.
יצא לאור: (2008)