Silk, T., Hong, Q., Tamm, J., & Compton, R. (1998). AFM studies of polypyrrole film surface morphology - II. Roughness characterization by the fractal dimension analysis.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Silk, T., Q. Hong, J. Tamm, و R. Compton. AFM Studies of Polypyrrole Film Surface Morphology - II. Roughness Characterization by the Fractal Dimension Analysis. 1998.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Silk, T., et al. AFM Studies of Polypyrrole Film Surface Morphology - II. Roughness Characterization by the Fractal Dimension Analysis. 1998.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.