Silk, T., Hong, Q., Tamm, J., & Compton, R. (1998). AFM studies of polypyrrole film surface morphology - II. Roughness characterization by the fractal dimension analysis.
Citace podle Chicago (17th ed.)Silk, T., Q. Hong, J. Tamm, a R. Compton. AFM Studies of Polypyrrole Film Surface Morphology - II. Roughness Characterization by the Fractal Dimension Analysis. 1998.
Citace podle MLA (9th ed.)Silk, T., et al. AFM Studies of Polypyrrole Film Surface Morphology - II. Roughness Characterization by the Fractal Dimension Analysis. 1998.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..