Silk, T., Hong, Q., Tamm, J., & Compton, R. (1998). AFM studies of polypyrrole film surface morphology - II. Roughness characterization by the fractal dimension analysis.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Silk, T., Q. Hong, J. Tamm, und R. Compton. AFM Studies of Polypyrrole Film Surface Morphology - II. Roughness Characterization by the Fractal Dimension Analysis. 1998.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Silk, T., et al. AFM Studies of Polypyrrole Film Surface Morphology - II. Roughness Characterization by the Fractal Dimension Analysis. 1998.
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