Silk, T., Hong, Q., Tamm, J., & Compton, R. (1998). AFM studies of polypyrrole film surface morphology - II. Roughness characterization by the fractal dimension analysis.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Silk, T., Q. Hong, J. Tamm, i R. Compton. AFM Studies of Polypyrrole Film Surface Morphology - II. Roughness Characterization by the Fractal Dimension Analysis. 1998.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Silk, T., et al. AFM Studies of Polypyrrole Film Surface Morphology - II. Roughness Characterization by the Fractal Dimension Analysis. 1998.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..