Přeskočit na obsah
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
Pokročilé
  • SiNx and AlOx Nanolayers in Ho...
  • Vytvořit citaci
  • Zaslat SMS
  • Poslat e-mailem
  • Vytisknout
  • Exportovat záznam
    • Exportovat do RefWorks
    • Exportovat do EndNoteWeb
    • Exportovat do EndNote
  • Trvalý odkaz
SiNx and AlOx Nanolayers in Hole Selective Passivating Contacts for High Efficiency Silicon Solar Cells

SiNx and AlOx Nanolayers in Hole Selective Passivating Contacts for High Efficiency Silicon Solar Cells

Zobrazit další vydání (1)
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři: McNab, S, Bonilla, R, Niu, X, Wright, M, Wilshaw, P, Morisset, A, Khorani, E, Grant, N, Murphy, J, Altermatt, P, Wratten, A
Médium: Dataset
Jazyk:English
Vydáno: University of Oxford 2023
Témata:
Photovoltaic cells
Materials
  • Jednotky
  • Popis
  • Další vydání (1)
  • Podobné jednotky
  • UNIMARC/MARC
Popis
Shrnutí:

Podobné jednotky

  • SiNx and AlOx nanolayers in hole selective passivating contacts for high efficiency silicon solar cells
    Autor: McNab, S, a další
    Vydáno: (2022)
  • Data for "Hole-selective SiNx and AlOx tunnel nanolayers for improved polysilicon passivating contacts"
    Autor: McNab, S, a další
    Vydáno: (2024)
  • Optical modeling and characterization of bifacial SiNx/AlOx dielectric layers for surface passivation and antireflection in PERC
    Autor: Tahira, S, a další
    Vydáno: (2023)
  • Alternative dielectrics for hole selective passivating contacts and the influence of nanolayer built-in charge
    Autor: Mcnab, S, a další
    Vydáno: (2022)
  • Characterisation of SiOX / SiNX Surface Passivation Using Time-of-Flight Elastic Recoil Detection Analysis
    Autor: Matthew Wright, a další
    Vydáno: (2024-12-01)

Možnosti vyhledávání

  • Historie vyhledávání
  • Pokročilé vyhledávání

Objevte více

  • Procházení katalogu
  • Abecední procházení
  • Grafické procházení katalogu
  • Rezervace kurzů
  • Nové tituly v katalogu

Hledáte pomoc?

  • Tipy pro vyhledávání
  • Zeptejte se knihovníka
  • Často kladené otázky