Kirkland, A., & Meyer, R. (2004). "Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: Aberration measurement and wavefunction reconstruction.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Kirkland, A., και R. Meyer. "Indirect" High-resolution Transmission Electron Microscopy: Aberration Measurement and Wavefunction Reconstruction. 2004.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)Kirkland, A., και R. Meyer. "Indirect" High-resolution Transmission Electron Microscopy: Aberration Measurement and Wavefunction Reconstruction. 2004.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.