Kirkland, A., & Meyer, R. (2004). "Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: Aberration measurement and wavefunction reconstruction.
Չիկագոյի ոճի (17րդ խմբ.) մեջբերումKirkland, A., and R. Meyer. "Indirect" High-resolution Transmission Electron Microscopy: Aberration Measurement and Wavefunction Reconstruction. 2004.
MLA (9րդ խմբ.) ՄեջբերումKirkland, A., and R. Meyer. "Indirect" High-resolution Transmission Electron Microscopy: Aberration Measurement and Wavefunction Reconstruction. 2004.
Զգուշացում. այս մեջբերումները միշտ չէ, որ կարող են 100% ճշգրիտ լինել.