Kirkland, A., & Meyer, R. (2004). "Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: Aberration measurement and wavefunction reconstruction.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Kirkland, A., và R. Meyer. "Indirect" High-resolution Transmission Electron Microscopy: Aberration Measurement and Wavefunction Reconstruction. 2004.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Kirkland, A., và R. Meyer. "Indirect" High-resolution Transmission Electron Microscopy: Aberration Measurement and Wavefunction Reconstruction. 2004.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.